二手 TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90 #293587747 待售

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ID: 293587747
Overlay measurement system.
TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90是一個面罩和晶圓檢查設備,提供一致的真實和可衡量的結果.它是任何現代半導體材料加工設施的重要組成部分。該系統包括四個主要子系統:框架子系統、分析子系統、排序子系統和晶圓子系統。幀子系統負責掩碼和晶圓的物理測量。該裝置采用各種傳感器,如超聲波厚度計、介電貼片計和倒角檢查傳感器,精確測量掩模&晶片的尺寸和特性。它還包括一個集成的微型計算機和用戶界面,以指導用戶完成輸入測量和運行比較測試的過程。分析子系統對於掩模晶片的客觀分析至關重要.機器由可以檢測缺陷的特殊算法組成,如裂紋、空隙、非均勻的表面特征和夾雜物。然後使用此子系統收集的信息來確定材料的整體質量,並幫助確定處理材料的最佳方法。排序子系統是根據掩碼和晶片的大小和質量對其進行分類的組成部分。Sorting Subsystem用Analysis Subsystem分析材料後,Sorting Subsystem可以將材料分為「低品質」、「高品質」、「極低品質」和「非常高品質」等類別。最後,晶圓子系統負責精確測量晶圓的形狀。這個子系統使用強大的算法來檢測表面特征的變化,檢測平坦度和表面積。這裏收集的信息可以用來幫助確定晶片是否適合在生產線中使用。總體而言,MAC-90是任何現代半導體材料加工設施的重要組成部分。通過組合框架、分析、排序和晶圓子系統,該工具能夠提供一致的真實和可衡量的結果。此外,其強大的算法和集成的微電腦使資產能夠以極高的精度檢測和分類掩碼和晶圓。
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