二手 TOPCON VI-3200 #9410949 待售

TOPCON VI-3200是一種設計用於半導體工業的高通量掩模和晶圓檢測設備。它提供一流的映像和自動缺陷檢查性能,有助於確保最佳的過程控制和成本節約。VI-3200使用亮場、暗場和晶圓光譜成像（WSI）來提供一套全面的檢查功能。Brightfield成像用於檢測大小和基於位置的缺陷，而darkfield成像則檢測模式的不規則性和線寬變化。WSI有效地捕捉各種缺陷的確切形狀、位置和狀況，包括空隙、劃痕和汙染斑點。該系統提供卓越的圖像細節和準確性,以及令人印象深刻的功能組合,包括自動檢查設置和參數優化、3D圖像分析以及全面的缺陷分析。它的自動檢查設置和參數優化功能使該單元能夠快速優化手頭作業的設置,而其3D圖像分析功能提供了對模式和對齊誤差的高精度測量。TOPCON VI-3200具有先進的缺陷分析能力,包括模式識別和航空圖像定量分析,從而能夠識別小尺寸的圖像。為確保卓越的圖像質量和最大的性能,該機配備了下一代光學工具以及高性能的圖像處理器。該資產專為快速、輕松的設置和操作而設計,非常適合繁忙的生產環境。它還具有廣泛的集成質量和缺陷測量功能,包括2D/3D光學臨界尺寸測量,可用於分析和測量大型復雜的掩模模式。VI-3200是一種功能強大、功能強大的掩模和晶片檢查模型,它結合了卓越的圖像質量和準確性以及令人印象深刻的一系列功能。通過幫助確保最佳的工藝控制和成本節約,它是半導體制造環境的絕佳選擇。