二手 TOPCON Vi-SW150 #293830435 待售

TOPCON Vi-SW150是一種下一代的掩模和晶片檢測設備,其設計目的是提供高度精確的成像和分析,即使是對於最先進的圖樣和結構也是如此。該系統提供無與倫比的精確度，並通過高分辨率成像和在廣泛的角度和頻率範圍內掃描產生。Vi-SW150具有兩個可單獨控制的激光光源，波長範圍從405納米到633納米，可以方便地調節視場照明。顯微鏡物鏡還能夠實現從5倍到2000倍的各種放大倍率，這取決於所檢查的圖案和缺陷大小。它還具有板載定位單元,允許沿x軸和y軸自動掃描。TOPCON Vi-SW150還配備了可用於測量和處理掃描圖像的高級成像軟件。該軟件在下一代實時操作機器上運行,該計算機允許快速分析數據以檢測缺陷並確定其特征。它能檢測和排除大於1納米的微缺陷和宏觀缺陷。Vi-SW150設計用於許多行業的各種應用。它在半導體工業中特別有用，在制造過程中可用於臨界掩模檢查和晶圓分析。它也是檢查印刷電路板、光掩模和其他印刷材料的理想選擇。TOPCON Vi-SW150易於操作,直觀且符合最新的行業標準。它有一個完全集成的環境控制和安全工具，旨在確保資產和操作員始終保持安全。它還具有完全模塊化和可擴展性,允許靈活配置和輕松集成到現有生產線中。總體而言,Vi-SW150是一種先進而可靠的自動掩模和晶片檢查模型,可提供對細微的模式和缺陷的完整而準確的識別、檢測和分析。它設計為易於操作,可為各種應用程序提供節省時間和經濟高效的解決方案。