二手 TOPCON WM 1700 #293807247 待售

TOPCON WM 1700
ID: 293807247
Wafer surface inspection system.
TOPCON WM 1700是一種掩模和晶圓檢測設備,旨在提供高產率,使用戶在開發各種類型的集成電路時能夠做出明智的決策。它具有針對高性能和可靠性進行優化的高級設計,以及可升級的光學系統以提高分辨率。檢測單元使用2048x2048像素陣列CMOS圖像傳感器,可捕獲高達500萬像素的單個圖像。它具有檢測分辨率最高的微觀缺陷的能力μ可以同時拍攝0.5米的紅色、綠色、藍色和中性彩色圖像。機器精度為0.2 μ m,可測量局部特性和全局特性.WM 1700的設計重點是最大限度地提高吞吐量和實現高效運營。該工具由32位多核處理器提供動力,具有集成的探測站和自動示例設置,以實現速度和便利。它有一個大的11.4英寸傳感器,靈敏度優於檢測低對比度缺陷,以及一個800萬像素的線性CCD用於明亮場圖像。集成光源可配置用於照明和成像,為用戶提供了廣泛的檢查可能性。該資產與許多流行的軟件格式兼容,包括JEOL、TEL和Accuracy。它支持用於半導體掩模修復和3D透矽(TSV)檢測的軟件解決方案。其集成軟件平臺使用戶能夠快速訪問數據並配置高級檢查設置。該型號還符合半導體設備和材料國際組織(SEMI)接口標準等行業標準協議和標準。TOPCON WM 1700為高端掩模和晶圓檢測提供了高效、靈活且經濟高效的解決方案。其先進的設計幫助用戶滿足行業對高產可靠操作的需求。憑借其改進的分辨率、可配置的光源和廣泛的兼容軟件格式,用戶可以快速準確地評估微尺度缺陷並執行3D TSV檢查。
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