二手 TOPCON WM 2500 #293616515 待售

TOPCON WM 2500是一種先進的掩模和晶片檢測設備，設計用於檢測和識別半導體晶片和掩模中的微觀缺陷。該系統具有光學線性陣列、先進的二進制光學單元、嵌入式計量操作、先進的缺陷分析機等多種特征和技術，可以檢測和分類甚至小於單個晶體管尺寸的缺陷。WM 2500的核心是它的光學線性陣列,它的工作原理是捕獲和存儲數千個圖像,每個圖像由數千個像素組成,每個像素代表多達256個灰度級別。此工具創建晶圓、掩模或標線的表面的超高分辨率圖像,並用於識別、分類和量化表面可能存在的任何缺陷。TOPCON WM 2500還采用嵌入式計量操作，這意味著無需外部測量機來檢測和測量缺陷大小。嵌入式計量學操作能夠發現和測量尺寸從一微米到幾十微米不等的缺陷，可以收集這些數據進行統計分析。WM 2500還利用先進的二進制光學資產，允許檢查不同類型的缺陷，如晶體缺陷、斷線和透明或透明的顆粒。模型還可以檢查大面積的表面缺陷，如空隙和粒子，並且可以捕捉不同角度的物體圖像。最後,該設備能夠采用先進的缺陷分析系統,該系統可幫助用戶根據大小、亮度、形狀、方向和邊緣清晰度等多種特性識別和分類缺陷。該單元可以精確檢測和識別甚至小於單個晶體管的缺陷，並可以提供有關其位置和外觀的詳細信息。TOPCON WM 2500擁有先進的光學、計量和缺陷分析機,是半導體公司的寶貴工具,能夠幫助他們準確識別、分類和量化可能威脅其產品完整性的缺陷。