二手 TOPCON WM 2500 #9227180 待售

TOPCON WM 2500
ID: 9227180
晶圓大小: 8"
優質的: 2001
Wafer particle inspection system, 8" 2001 vintage.
TOPCON WM 2500是一款設計用於半導體行業的高端掩模和晶圓檢測設備。它管理著包括光掩模和晶圓檢測、零件檢測和電路修復在內的各種領域的圖像和數據處理。該系統利用先進的激光光學器件,以現代生產工藝所接受的線寬或線寬以下的分辨率捕獲掩模或晶片表面的照相圖像。WM 2500具有305毫米的掃描區域,用於掩模或晶圓檢查,分辨率為4.5µm。它內置了兩個攝像頭,從不同角度提供獨立的圖像捕捉,以提高精度和靈敏度。晶片級緩慢旋轉晶片,尋找缺陷、表面缺陷或其他異常。該單元可以利用其專利成像和叠加算法,將晶圓層與現有數據集進行比較,從而以較高的準確率檢測潛在缺陷。包含的分析包使用戶能夠輕松地檢測和分析密集電路、復雜叠加或非周期模式。采用高級算法搜索細微細節或小缺陷。而且用戶友好的SmartViewer軟件允許用戶創建、查看、存儲和管理他們的檢查數據。TOPCON WM 2500設計有各種類型的口罩和晶片,從基本形狀到更復雜的形狀。它還提供了與現有工藝管理機器的輕松集成,允許用戶監控生產和調整流程,以確保高質量的產品。這種掩模和晶圓檢測工具是半導體生產的最前沿.憑借先進的激光光學、多相機和分析包,確保了半導體生產的更高質量標準。WM 2500專為需要精確和可重復結果的生產運行而設計,使其成為半導體工業生產商必不可少的設備。
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