二手 TOPCON WM 3 #9115730 待售

TOPCON WM 3
製造商
TOPCON
模型
WM 3
ID: 9115730
晶圓大小: 6"
Wafer inspection system, 6".
TOPCON WM 3是一種面膜和晶片檢驗設備,設計用於檢測和檢查玻璃和石英鍍鉻面膜和晶片上的缺陷。該系統旨在提供高精度、高通量和成本效益的掩模和晶圓檢測操作。它使用4K CCD彩色相機和數字輸入/輸出單元,檢測200 mm和300 mm晶圓的高分辨率潛在缺陷。TOPCON WM-3機器由其集成的Optical Design Engine提供動力,它能夠快速準確地檢測掩模和晶片上的潛在缺陷。該工具還提供高分辨率數碼相機和光學校正鏡頭供檢查。掩模和晶片檢查資產可以從掩模和晶片表面獲取極其精確的圖像。而且,檢測模型還提供了自動模式識別、缺陷檢測和報告、多區跟蹤、圖像預處理、閾值和TWAIN接口等廣泛的特點。WM3設備能夠模擬環境光條件,可通過可調光系統尋址,可根據應用進行校準。可調光單元可防止任何光學調節或手動重新對準以補償環境光。WM-3機器還提供了多種用於掩模和晶片檢測的自動檢測選項,如標準熱點檢測、線緣粗糙度測量以及用於檢測小缺陷的搜索和報告功能。該工具還支持多種命令語言,允許快速高效的掩碼和晶圓檢查。它還可以連接到主機計算機,允許資產應用自動控制和數據傳輸。此外,TOPCON WM 3模型還提供了幾種軟件選項,例如晶圓檢查控制和分析軟件包,以便對設備生成的數據進行高效管理。總體而言,TOPCON WM-3是一種最先進的掩模和晶片檢測系統,旨在實現業界領先的準確性、速度和成本效益。該設備功能豐富,為用戶提供了多種功能,可有效地檢測和檢查口罩和晶片上的潛在缺陷。
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