二手 TOPCON WM 3 #9250106 待售

TOPCON WM3是一種掩模和晶片檢測設備，利用先進的圖像處理技術檢測制造的掩模和晶片的缺陷。它擁有集成了RGB照明的4視圖光學檢測系統。為了獲得更高的缺陷檢測精度，該裝置采用了先進的模式匹配算法，允許同時檢查不同的掩模或晶片。該機實現了基於高分辨率相機光學的卓越圖像采集能力。它還采用了基於硬質材料和軟件的防反射和減少耀斑技術，確保了所檢查的掩模和晶片的清晰清晰的圖像。該工具的數碼相機采用高分辨率拜耳和RGB單色模式的組合。TOPCON WM-3資產的缺陷檢測能力非常出色，因為它能夠檢測和準確分類中小型缺陷。該模型可以利用先進的模式匹配算法自動檢測到最大亞微米大小的缺陷。再者，它可以偵測到表面不均勻等其他不規則。設備還可以檢測各種缺陷，如顆粒、劃痕、汙漬、分層或汙染。WM3系統能夠測量和分析各種缺陷以及晶圓缺陷和掩模之間的相對位置。該單元包括一臺高速數據處理機，可以快速處理多個圖像。然後將收集到的數據導出到外部系統進行進一步處理。還提供了一個功能強大的API,它允許工具與其他機器或進程集成。WM-3資產用途廣泛，因為它為用戶提供了各種不同的方式來定制和定制模型以滿足他們的需求。它還具有用戶友好的圖形用戶界面和強大的自動化設備，使系統易於使用和配置。總體而言，TOPCON WM 3單元是一種功能極其強大且用途廣泛的面罩和晶圓檢測工具。它提供了出色的缺陷檢測功能、高速數據處理系統和可定制的用戶界面,使其非常適合各種檢查和分析任務。