二手 TOPCON WM-7S #9280870 待售

TOPCON WM-7S
ID: 9280870
優質的: 2017
Wafer surface inspection system 2017 vintage.
TOPCON WM-7S是一種精確可靠的掩模和晶圓檢測設備,用於檢測和測量半導體和光掩模基板上的缺陷。該系統利用高分辨率光學器件,為操作員提供卓越的成像能力,並在檢查掩模和晶片缺陷時檢查準確性。單元的核心是其先進的影像處理器,使總檢查時間只有9秒。在此過程中,分割場CCD照相機捕獲2個掩模或晶片表面的圖像,以檢測兩個不同方向的缺陷。此外,激光掃描機還可以使光學器件在樣品表面上有廣闊的視野和快速移動,從而進一步提高了刀具的速度和效率。TOPCON WM 7S的控制控制臺還具有許多自動控制功能,從設置審查參數到將資產與外部測量工具集成。這有助於捕獲復雜的缺陷模式,如各種視線標記、色差和裂紋等缺陷。為了充分利用模型,WM-7S還提供了許多高級功能功能,如照片檢查、模版模式檢測和缺陷分級。在準確性和靈敏度方面,該設備能夠檢測到低至0.15 μ m的缺陷,使其適合在廣泛的工業應用中使用。再者,系統的可用性通過直觀的用戶界面、全面的Windows兼容軟件包、內置的數據管理工具等功能進一步增強。WM7S是一種高效可靠的掩模晶片檢測裝置,非常適合檢測和測量基板上各種類型的缺陷。精確的成像和自動化控制確保為用戶提供適合其特定檢查要求的高級機器。此外,該工具的設計考慮到可用性、速度和準確性,使其成為任何應用程序或生產環境的理想選擇。
還沒有評論