二手 ULVAC SP1 #9296177 待售

ULVAC SP1是一種精密的掩模和晶片檢驗設備，旨在為制造商提供極其準確和深入的信息，用於全面的質量控制。它能夠識別超低壓半導體晶片、納米器件、3D基板等方面的缺陷。ULVAC SP-1配備了一個高精度的光學成像系統，用於對晶圓的表面和邊緣進行特寫視圖。該單元能夠檢測到各種缺陷，如顆粒、碎片、劃痕和顛簸。最大分辨率為20nm時,將捕獲每個細節。此外,機器能夠識別曲面的微小曲線、斜率和凹槽。為了確保數據的準確性,SP1配備了高速圖像處理工具。這項資產使用算法來識別各種數據，個人可以自定義處理參數。此外,該模型還可以檢測晶圓上缺陷的精確坐標.SP-1還包括一個集成的傾斜控制設備,用戶可以將樣品旋轉180度以進行精確測量。此功能可以更深入地了解晶片的結構。此外,系統還配備了激光自動聚焦裝置,可檢測焦點的微小變化並對其進行校正。最後，ULVAC SP1包括一個膜測量機。這使檢查員能夠評估每一層膜的厚度和形狀，以及任何汙染物或劃痕。它還可以檢測薄膜厚度的差異，允許更精確的測量。ULVAC SP-1的綜合特性使其成為掩模和晶圓檢測的理想工具。其高精度和細節使質量控制過程更加有效。借助SP1，廠商可以自信地實現晶圓和掩模卓越。