二手 WACCO AVIS-B-10 #293661612 待售

WACCO AVIS-B-10是一種最先進的掩模和晶圓檢測設備,可為用戶提供卓越的精度、可靠性和速度。該系統利用光學成像單元檢測和測量晶片和掩模上的缺陷，包括劃痕、針孔和汙垢。與傳統的檢查方法如掃描儀或人工檢查相比，機器的創新設計允許更高的準確性和可重復性。AVIS-B-10具有兩種主要的檢測模式：均勻背景模式和異構背景模式。均勻背景模式用於檢查晶圓或掩模上類似區域中出現的淺缺陷。此模式的工作原理是分析從晶圓或掩模表面散射的衍射光,然後創建參考圖像,將其與被檢查區域的圖像進行比較。如果檢測到任何差異或缺陷,工具可以立即向用戶發出警報。異構背景模式用於檢查更深的缺陷，或者當晶圓或掩碼的特征對於同構背景模式而言過於復雜時。此模式的工作原理是分析被檢查的晶片或掩模的光學圖像,然後創建參考圖像。然後比較參考圖像和實際圖像之間的差異,並立即標記檢測到的任何缺陷。WACCO AVIS-B-10還具有自動缺陷分類資產。該模型使用先進的人工智能算法掃描參考圖像，並將其與一組預先定義的標準進行比較，使設備能夠將任何缺陷快速歸類為潛在的災難性缺陷或誤報。系統可以進一步對缺陷類型進行分類，並向用戶提供詳細的描述，讓他們更好地了解缺陷的性質以及如何解決。AVIS-B-10還具有精確測量單元。該機器利用激光三角測量工具精確測量缺陷深度和長度的大小，使用戶能夠更準確地評估缺陷的嚴重程度以及如何解決缺陷。總體而言，WACCO AVIS-B-10為用戶提供了更高的精度和速度，當涉及到面罩和晶圓檢查。它的高級資產能夠有效地檢測和分類缺陷,從而使用戶能夠快速準確地解決這些缺陷。