二手 WCT MPM-6000V-U #9267092 待售

WCT MPM-6000V-U是為監測半導體制造工藝的完整性而設計的專業級掩模和晶圓檢測設備。該系統提供卓越的成像功能和功能,使生產工程師能夠在制造過程中篩選和評估掩模和晶片缺陷。MPM-6000V-U為直徑不超過8英寸的掩模和晶片提供高精度成像功能。它的雙面計算能力能夠同時處理雙面檢測。該單元采用先進的光學和成像技術，同時采用多邊匹配技術進行缺陷自動檢測和分類。該機器還為各種半導體制造工藝的表面和內部缺陷提供可靠、高質量的成像性能。該工具的用戶界面是可自定義的,易於使用,並提供詳細的審核跟蹤選項。基本檢查、統計過程控制和資產狀況等不同程序可以快速定制調整。模型生成的綜合報告是可自定義的,可以通過電子郵件或傳真發送。WCT MPM-6000V-U配備了一系列高級功能,旨在最大程度地提高監控和報告功能。實時圖像捕獲功能使工程師能夠查看實時存在的缺陷圖像,並提前計劃響應操作。設備還提供快速缺陷標記和分類，使工程師能夠精確識別和評估缺陷。從安全方便的角度來看，系統設計易於維護和操作。它包括一個安全鑰匙單元，用於監視和更改設置，以防止未經授權的人員篡改機器。該工具還包括一個校準模塊，允許定期校準，以確保準確性和一致的性能。MPM-6000V-U是一種功能強大的掩碼和晶圓檢查資產，旨在準確檢測和評估半導體制造過程中存在的缺陷。它具有先進的光學和成像功能、用戶友好的界面以及精確的缺陷檢測和分類。它擁有一系列先進的功能和用戶友好的操作,是尋求可靠的半導體制造過程監控和分析解決方案的企業的絕佳選擇。