二手 WELCH Allyn 767 #171008 待售

WELCH Allyn 767是一種自動掩模和晶片檢測設備，為用戶提供了一種高效、精確的晶片和掩模結構檢測方式。該系統采用2D和3D結構化照明技術,旨在檢測0.18 μ m節點IC、MEMS和傳感器結構中的缺陷。767單元具有高性能照明子系統和高分辨率顯微鏡光學器件,可讓用戶檢測晶圓和掩模結構上可能存在的缺陷。此外,767還具有自動、非接觸式對齊機,可幫助最大限度地提高刀具效率,以及自動校正過程,可調整強度或焦點以適應不斷變化的條件。該掩模和晶圓檢測資產還包括全方位的強大圖像分析和缺陷審核工具。這些工具用於檢測各種類型的缺陷和不規則性,如裂縫、模式錯誤和灰塵汙染等。然後,用戶可以分析圖像並采取措施修復缺陷。767型號擁有一個用戶友好的界面,可幫助用戶快速評估圖像和進行更正,並能夠保存檢查和測量結果以供日後審查。此外，在檢查過程結束時，設備將生成關於所檢查樣品的詳細報告。總體而言，Allyn 767是一個先進的掩模和晶片檢查系統，用戶可以依賴它來準確和精確地檢查晶片和掩模結構。它提供了一套全面的缺陷檢測和分析工具，可以用來檢測和糾正各種缺陷。767的用戶友好界面和詳細的報告使單位和檢查過程更加高效準確。