二手 WELCH Allyn 76791 #9003994 待售

WELCH Allyn 76791 Mask&Wafer Inspection設備是一種高度通用的檢查系統,旨在檢查晶片級和掩模級設備。其應用範圍從小晶片的評價到大口罩的檢驗。該單元提供了一系列圖像放大、照明和分辨率功能,能夠對即使是非常復雜的設備進行精確的視覺檢查。Allyn 76791 Mask&Wafer Inspection Machine配備了一個集成的500萬像素無模量彩色相機,能夠捕獲分辨率高達2560 x 1920像素的圖像,從而根據所使用的鏡頭提供了22到46倍的大方光學放大倍率。相機連接到工具的光導，反過來提供從紫外線到紅外線的四色LED照明，以及一盞用於亮場照明的明亮100 W氙弧燈。相機還可以捕獲可與3D掃描應用程序配對的圖像序列。對準功能可確保準確、精確的定位,並允許在與WELCH Allyn專有的掃描物鏡結合使用時放大1000X。資產中包含的功能強大的軟件環境提供了用於查找異常、實現圖層可視化以及為排泄性分析應用程序提供應用程序的工具。WELCH Allyn 76791 Mask&Wafer Inspection Model帶有兩個獨立的工作站,一個用於設備的維護和操作,另一個用於分析捕獲的圖像。第一個工作站提供必要的環境來設置系統,以及調整與放大、分辨率、亮度和對比度相關的參數。分析工作站允許查看、測量和註釋設備獲取的圖像。Allyn 76791 Mask&Wafer Inspection Machine提供了幾種操作模式,其中包括一種全自動模式,使其能夠發現細小的不規則性和缺陷,如點、線、線端違規或短路和開路。此外,還有幾種手動模式使用戶能夠探索和檢查正在檢查的設備。WELCH Allyn 76791 Mask&Wafer Inspection Tool易用、可靠，與市面上其他可用的檢測系統相比提供準確的結果。它是一種具有成本效益的資產，可以提供小型復雜系統的詳細分析，非常適合半導體器件制造商或研發應用。