二手 WITHLIGHT OPI-110 #9281914 待售

WITHLIGHT OPI-110 Mask&Wafer Inspection Equipment是一個完整的解決方案,用於檢查一系列半導體材料的缺陷、缺陷和其他不一致之處。該系統提供高分辨率的成像解決方案,具有廣闊的視野,能夠準確高效地檢查一系列材料。OPI-110具有獨特的成像顯微鏡，能夠同時進行明場和暗場成像。這種雙目顯微鏡光路幹涉測量裝置可以很容易地調整，以觀察小至0.5 μ m的特征，使制造商能夠有效地檢測材料中的缺陷、汙染和其他汙染物。它的精密光學為用戶提供了一個高分辨率的圖像，可以通過簡單地轉移焦點來快速、輕松地導航。WITHLIGHT OPI-110還配備了自動晶圓處理機，旨在幫助簡化和加快檢查過程。通過輕巧的設計,可以輕松設置和重新定位該工具,從而實現平穩、準確的樣品加載。資產還配備了先進的軟硬件集成，使用戶能夠控制模型的參數，並以高分辨率、近乎實時的方式可視化圖像。除光學檢查外，OPI-110還可用於激光束感應電流（LBIC）成像。此技術使用戶能夠檢測材料行為的變化,最大可達6 μ m。LBIC技術還能夠檢測樣本中的不均勻區域，為用戶提供詳細的實時信息。WITHLIGHT OPI-110是任何半導體制造商尋求可靠有效的晶片和掩模檢測方法的理想解決方案。通過利用其復雜的成像功能和自動化的樣品處理設備,OPI-110使制造商能夠準確快速地檢測材料中的缺陷、汙染和其他不一致之處,從而提高其產品的質量。