二手 WITHLIGHT OPI-305 #9382260 待售

WITHLIGHT OPI-305是一種面罩和晶片檢查設備，設計用於檢查和檢測來自面罩和晶片基板表面的微粒汙染物。該系統為嵌入基板的顆粒和顆粒提供高分辨率成像。OPI-305利用激光二極管光源捕獲粒子圖像。然後利用WITHLIGHT專有的數字圖像處理算法對捕獲的圖像進行數字分析。WITHLIGHT OPI-305提供456x435像素的高質量圖像分辨率。這允許最大分辨率和對粒子的靈敏度，從而能夠檢測直徑不超過1.2微米的粒子。激光二極管光源旨在最大限度地減少基板上的熱量，並確保低水平的亮場照明。OPI-305集成了先進的光學元件，可以同時成像各種放大倍數。這使得更高分辨率的圖像具有更高的放大倍率以及同時檢查多個基板。該單元還內置了暗場照明，便於粒子檢測。WITHLIGHT OPI-305包括先進的3D成像功能,允許對表面地形進行3D重建和分析以檢測微粒汙染物。該機器還有一個靈活的、可編程的檢查協議，用於從可能具有不同表面拓撲結構的多個基板表面捕獲顆粒物汙染物的圖像。OPI-305包括一個直觀的用戶界面，可以方便的操作和數據分析。它還包括一些預先編程的檢查協議，可用於各種檢查和粒子探測任務。WITHLIGHT OPI-305的設計確保了可重復、可靠的結果,具有高度的靈活性和可重復性。其直觀的用戶界面和數字圖像處理算法保證了準確的檢測結果。它具有高分辨率成像、檢測功能和3D成像功能,是掩碼和晶圓檢查的理想工具。