二手 YASUNAGA LI-2000 #9103680 待售

YASUNAGA LI-2000 Mask&Wafer Inspection設備設計用於半導體Mask和Wafer精細特征的精確檢測和測量。它為各種幾何形狀提供了快速可靠的檢查和測量功能,允許高速運行和可重復性。該系統主要由高速檢測單元、強大的圖像處理機和強大的軟件套件組成。高速檢測工具利用獨特的狹窄視野成像資產高速檢測小特征。這使模型能夠快速獲取檢查期間所需的圖像數據。圖像處理設備用於隨機或確定性地處理獲取的圖像數據，包括分析特征的幾何形狀。系統中包含的功能強大的軟件套件用於管理數據和圖像數據的操作,為檢查和測量半導體掩碼和晶片上的精細特征提供了全面的解決方案。LI-2000設計用於廣泛的檢查應用,包括缺陷檢查、圖樣分析、照片掩蔽、掃描測量和其他類型的檢查。該單元支持多種光學透鏡，允許用於各種成像應用。它還能夠支持先進的無損檢測系統，包括計算機斷層掃描（CT）系統和X射線系統。YASUNAGA LI-2000配備了一個內置的檢查數據庫，可以存儲用於檢查任務的用戶定義配方設置。機器有一個龐大的測量模板庫和強大的可視化編程語言。測量陣列、測量選擇和算法參數可以定制，以適應個別應用要求。LI-2000是極其可靠的，旨在提供準確性和可重復性。該工具由業界領先的支持軟件包提供支持,並在出貨前經過全面測試。該資產還提供一系列配置和軟件包,以適應不同的預算和客戶需求。