二手 ZYGO F/0.75 Lambda/40 #9383775 待售

ZYGO F/0.75 Lambda/40掩模和晶片檢測設備是一種高精度光學系統，旨在檢測半導體器件制造中使用的光掩模和晶片的缺陷。該設備能夠檢查分辨率降至0.75微米的曲面,並提供自動聚焦跟蹤和全場圖像縫合等高級功能。機器的核心是一個大幅面激光光源，產生波長為40納米的光。這樣就可以在光掩模或晶片進入生產過程的下一步之前對其最小的特征進行檢查。照明源配有一對先進的照相機，能夠檢測各種格式的缺陷，包括顏色、亮度和對比度。攝像機安裝在一個可移動的平臺上，可以方便地將攝像機放置在光掩模或晶片上的任何區域。該工具還包括一個集成的視覺處理器,它可以將兩個攝像機的多個圖像組合在一起,以創建整個區域的單個圖像以供檢查。此處理器還用於檢測圖像中的缺陷並存儲數據以供以後查看。ZYGO F/0.75 Lambda/40掩模和晶圓檢測資產配備了一系列功能，使檢測過程更快、更高效。它具有較大的工作區域，允許在一次掃描中檢查較大的晶圓。自動焦點跟蹤功能確保檢查過程盡可能準確。此外,該模型還附帶軟件,使用戶能夠自定義處理參數並設置一致性檢查,以確保不會忽略任何缺陷。ZYGO F/0.75 Lambda/40面膜和晶片檢測設備提供可靠的缺陷分析結果,使用戶能夠確保其產品達到最高質量標準。該系統適用於大批量和小批量生產運行，是半導體行業的理想工具。