二手 ZYGO GPI-XP HR #293826355 待售

ZYGO GPI-XP HR是一種創新的下一代掩模和晶圓檢驗系統，旨在幫助半導體制造商實現最高水平的產量和工藝控制。GPI-XP HR采用業界領先的3D成像技術,使用激光束進行光學計量,從而能夠對光掩模和晶片進行詳細的角反射成像,其分辨率至少是其他成像系統的10倍。這提供了高分辨率的成像,軸向分辨率高達0.75 μ m,可以精確檢查具有挑戰性的圖樣。此外,系統的動態窗口功能使用戶能夠針對較小的特征或特定的精細結構細節調整圖像頭的視場。ZYGO GPI-XP HR還集成了ZYGO專有缺陷審查軟件,使用戶能夠快速識別、分類和查看檢測到的任何缺陷。這使用戶能夠在產品生產開始之前快速隔離並解決潛在問題。除了缺陷審查功能外,GPI-XP HR還提供了一套高級的計量功能,包括臨界尺寸（CD）測量、CD均勻性（CDU）測量和線緣粗糙度（LER）測量。此高級計量套件允許最高級別的流程控制,使用戶能夠精確調整所有處理參數以獲得最佳結果。此外，ZYGO GPI-XP HR帶有直觀的人機界面（HMI），帶有觸摸屏控件和易於理解的菜單。這使得檢查過程簡單高效，並允許改進過程參數調整。GPI-XP HR是任何希望達到最高工藝控制和產量水平的半導體制造商的理想選擇。該系統為光掩碼和晶片提供業界領先的成像和計量功能,並結合直觀的觸摸屏控制和用戶友好的缺陷審查軟件。無論您是生產邏輯設備、內存芯片還是復雜的IC, ZYGO GPI-XP HR都是實現最低擁有成本的完美解決方案。