二手 ZYGO GPI-XP HR #9382317 待售

ZYGO GPI-XP HR是一種專業的掩模和晶片檢測設備，設計用於精確檢測臨界光刻掩模和晶片。該系統利用先進的檢測和測量算法來檢測和測量微光刻晶片的特性。GPI-XP HR擁有一個強大的檢查和測量軟件庫,該單元可配置用於各種應用程序,以滿足最苛刻的要求。ZYGO GPI-XP HR配備高分辨率相機，以Leica Optics和先進的CCD技術為特色，具有卓越的空間分辨率，以及最新的電子和圖像處理系統。相機工具可以針對各種類型的應用進行優化，可以配置為高速運行。一個多功能的二維。彩色數字圖像處理資產是GPI-XP人力資源專有的成像引擎,可實現快速的檢查速度和準確的圖像捕獲。該模型結合了先進的軟件工具，用於強大的缺陷表征，自動化快速缺陷隔離和檢測的過程。ZYGO GPI-XP HR的自動化測量範圍,包括缺陷匹配、臨界尺寸（CD）測量、線條輪廓分析、對比分析、邊緣檢測、散射測量、像素大小和線條寬度。此外,該設備還采用模式識別算法來識別特定的模式和檢測細微的缺陷.該系統還包括用於高級註釋和缺陷審查的模塊,以及帶有可定制模板的自動報告。GPI-XP HR還兼容其他行業軟件標準，包括用於自動化編程和晶圓參數表征的OMRON IHI ChipVision軟件。還與ZYGO Z-Scope Model等軟件集成，用於高級缺陷審查。ZYGO GPI-XP HR非常適合口罩制造商、IDM和OEM尋找先進的口罩和晶圓檢測能力,並結合業界領先的檢測和測量精度。設備的模塊化設計實現了規範的建立,以滿足最苛刻的應用要求。