二手 ZYGO Mark GPI-XPS #9258818 待售

ZYGO Mark GPI-XPS是專門為先進的光掩模和晶圓檢測應用而設計的掩模和晶圓檢測設備。該系統使用正在申請專利的後處理技術，在分辨率、準確性和速度方面最大限度地提高結果質量，使其成為檢查小型復雜陣列的大陣列的理想選擇。該單元配備了兩臺全場成像攝像機。第一個照相機可用於亮場檢查，第二個照相機可用於暗場成像。圖像分辨率為1.2 µm，是高分辨率晶片和掩模檢測的理想選擇。標記GPI-XPS能夠檢查直徑達225毫米的晶片-比典型的200毫米晶片檢查系統大-使其非常適合用於工藝泄漏檢查器。這臺機器還采用了高壓縮、低噪聲的成像設計。此設計有助於降低總體噪音水平並產生更高質量的圖像。該工具還配備了高端照明器，為廣泛的檢查要求提供精確照明。ZYGO Mark GPI-XPS還具有模式匹配算法，用於將結果與參考圖像數據庫進行比較。資產搜索符合預定條件的特征,然後將它們標識為相同且不同的特征。此自動化過程有助於更準確地識別潛在缺陷並減少誤報。Mark GPI-XPS還為用戶提供了一個直觀的圖形界面，用於掩碼和晶圓檢查。這種用戶友好的界面有助於操作員快速設置模型並進行掩模和晶圓檢查。該界面還通過自動缺陷檢測工具提供易於理解的結果,用戶可以快速識別異常。ZYGO Mark GPI-XPS是光掩模和晶圓檢測應用的理想設備。其功能結合起來提供高分辨率成像、自動化缺陷檢測和直觀操作,以幫助提高產量和優化過程穩定性。該系統非常適合各種檢查要求，並能提供可靠的結果。