二手 ZYGO Mark II #117240 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ZYGO Mark II是一種掩模和晶圓檢測設備,可用於分析各種尺寸、形狀和材料的半導體。它被半導體行業認可為在生產過程中評估元件關鍵特性的可靠和準確的工具。Mark II的高精度光學成像技術設計用於檢查掩模、晶片和其他半導體的表面是否有缺陷或缺陷。它有一個令人印象深刻的分辨率1微米的所有檢查任務。這樣可以進行非常詳細的分析,確保準確識別可能影響性能的任何不利特征。ZYGO Mark II的軟件包旨在幫助用戶快速識別可能的缺陷。其機載缺陷分析儀能夠識別各種常見缺陷的模式,如分層、間隙、劃痕、凹坑、凹坑和位錯。此外,系統的打印協議工具可幫助實現匹配的發布功能,幫助確保每個部分檢查的組件都符合其規範,並以相同的順序匹配任何其他組件。Mark II的用戶友好控件使用戶能夠選擇和選擇不同的工具和設置。可用的選項使用戶能夠自定義設置以捕獲所需的結果。然後,該單元可以生成詳細的報告,總結掃描結果,並與生產團隊的其他成員共享。該機設計具有最大的靈活性和可靠性,配有可調光源,非常適合各種應用。該單元配備了兩個階段,因此可以同時發生兩個過程;一個用於掩模掃描,一個用於晶圓檢查。此外,它的快速掃描顯微鏡能夠快速檢查一個區域的大片區域。ZYGO Mark II是半導體行業的寶貴工具,允許在生產過程中進行詳細準確的質量控制。其出色的分辨率和快速識別缺陷的能力使其成為質量保證的理想投資。
還沒有評論