二手 ZYGO NewView 5000-5032-DS #9269321 待售

ZYGO NewView 5000-5032-DS掩模和晶片檢測設備是一種先進的光學計量工具，設計用於半導體光掩模和晶片的高精度無損檢測。該系統利用先進的光學、激光器和電子設備,提供了一系列高級功能和特性,以幫助發現可能不會被註意到的缺陷。該單元由低溫冷卻的200萬像素RGB CCD攝像頭組成，具有45度視角、靜態動態圖像捕捉、自動對焦和背光照明單元。這樣,最大視場尺寸可達25毫米x 25毫米。它與一臺快速高效的X-Y運動機器配有Z型驅動器，可進行納米級圖形測量。還采用了圖像穩定工具，以確保在外部穩定因素可能由於振動或其他環境因素而導致不斷掃描移動的測量條件下獲得準確的結果。該資產能夠使用高清RGB顏色信號或普通單聲道信號。它還為數字和傳統模擬光濾鏡提供支持。此外，精確的數字數據校正可以直接應用於掃描圖像，以改善測量。ZYGO NEWVIEW 5000 5032-DS利用其先進的光學器件來檢測最小的特征,如劃痕、斑點和塵埃粒子,並且能夠檢測到比半導體上可見特征還小的特征。利用立體成像、移相幹涉測量、條紋投影和光強度比較等方法，為高像素密度晶片和低至90nm的掩模的檢測提供了便利。它還可以檢測mura和薄膜缺陷。為了確保準確性和一致的結果，該模型采用了一種獨特的功能，稱為「標準矽膠參考芯片」，允許檢查多個不同的芯片類型和工藝。此外,ZYGO深入分析軟件GOTO （Geometric Testing Equipment）有助於識別和分析比傳統計量系統更深的缺陷。它還有助於識別有缺陷的晶片和掩模在其投入生產之前的模式。NewView 5000-5032-DS是一個可靠且廣泛使用的系統,用於為任何掩模或晶圓檢查提供準確的結果。這種先進的計量工具使工程師和科學家能夠發現最小的缺陷，從而幫助降低晶圓和掩模生產成本。