二手 ZYGO NewView 5032 #9375626 待售

ZYGO NewView 5032是一款用於增強半導體工藝控制和屈服管理的掩模和晶圓檢測設備。該系統配置有5軸級和高性能光學顯微鏡,可提供一系列查看和成像功能。該單元具有多種幹涉測量和微觀成像選項,使用戶能夠測量各種缺陷,包括質量和輪廓不均勻、表面粗糙度以及尺寸和光學不均勻。它能夠測量小到幾納米大小的缺陷，讓用戶從多個角度全面查看樣品。該機還融合了先進的圖像處理、掩碼編輯、模式識別和統計分析功能，為用戶提供了一套全面的缺陷分析工具。NewView 5032的樣品級設計接受不同的基板，包括矽片和薄膜，以及混合基板。該級針對樣品X或Y軸的1微米分辨率進行了優化，最大掃描速度為每秒2納米。5軸運動控制允許在擾動最小的情況下精確定位樣品，為用戶提供高精度和重復性測量。該工具的光學顯微鏡配備了多種成像和聚焦透鏡，使操作員能夠捕捉樣品的最佳細節。它提供了廣泛的放大倍數，從2倍到50倍，與光譜成像和對比度增強功能一起。顯微鏡還具有光學圖像穩定，提供卓越的圖像穩定和最小化收縮的地圖。ZYGO NewView 5032集成了一系列第三方系統以增強功能,為用戶提供了一套全面的選項來根據其特定需求自定義資產。它可以連接到自動化測試平臺，如測試和測量設備、吞吐量控制器和分析系統，以完全集成到現有的生產過程中。此外，該模型還可以連接到各種計算機系統，如PC和智能手機，以便遠程訪問數據。歸根結底,NewView 5032為掩模和晶圓檢查提供了一個通用的解決方案,它將強大的成像、幹涉測量和分析工具與5軸級設計的準確性和可重復性相結合。其廣泛的成像選項、可定制的功能以及與多個第三方系統的兼容性,使其成為過程控制和產量管理的絕佳選擇。