二手 ZYGO NewView 6300 #293762939 待售

ZYGO NewView 6300是一種用於半導體微電路掩模和半導體晶片精確分析和缺陷分類的掩模和晶片檢測設備。該系統在生產和研發應用中提供了前所未有的可靠性和準確性,從而實現了高效、準確的缺陷識別和分析。該設備采用了獲得專利的Multi-View TM Imaging技術,可提供無與倫比的缺陷可見性和分類。它配備了先進的照明技術，使用戶能夠控制檢查過程中使用的光線的方向、強度和偏振。ZYGO NEW VIEW 6300還提供高精度的光刻、沈積、計量、薄膜和故障檢測。該機器配備了自動缺陷分析工具，用戶可以精確地查明掩模或晶片中的任何缺陷。此資產能夠確定每個缺陷的確切位置、大小和特征,從而使用戶能夠輕松地識別和分類在其掩碼或晶片中發現的任何缺陷。NewView 6300還提供了多種圖像分析算法,可用於檢測、分類、測量和可視化缺陷。該模型能夠準確檢測細微的缺陷，如細螺距線寬度變化和斷線。此外,設備還可用於檢查設備不同級別之間的叠加精度。該系統結構堅固,可在0-40°C的溫度範圍內運行。它還配備了有助於降低工區噪音和振動的隔離裝置。NEW VIEW 6300的先進技術為用戶提供了必要的工具,以實現缺陷識別和分析方面的最佳性能。這臺機器是各種檢查應用的理想選擇,可確保業界領先的準確性和可靠性。