二手 ZYGO NewView 6300 #9188823 待售

ZYGO NewView 6300晶片和掩模檢測設備是一種自動化的非接觸式光學計量系統,旨在快速準確地測量晶片和掩模上的器件特性。它結合了高分辨率成像和掃描可調諧激光幹涉顯微鏡（STILI），使其適用於各種半導體、光電子和光機械制造測量。ZYGO NEW VIEW 6300有一個自動化的階段，使它能夠精確掃描和測量晶圓或掩碼上的大面積。先進的光學器件可提供高達0.1微米的分辨率,從而能夠測量極小的特征和結構。NewView 6300具有8毫米的工作距離和高達25毫米的視場,可在不到一分鐘的時間內精確測量晶圓或掩碼上的設備特性。NEW VIEW 6300配備了STILI技術，能夠精確、精確地測量特征。STILI使用激光幹涉測量來測量最小的地形特征，允許用戶以極高的精度測量輪廓、坡度、高度和其他表面特征。它還具有通過薄膜堆叠或光學塗層等不同層薄膜沈積進行測量的能力。ZYGO NewView 6300還為不同的應用程序提供了多種檢查模式。它可用於測量光刻成像、平面化、光刻或沈積等過程中高精度的器件特征。也可用於電極升空、掩模缺陷分析、晶圓稀釋。該設備易於使用和設置,並且需要最少的操作員培訓。它配有圖形用戶界面，可以讓用戶快速設置和運行機器，不會出錯。此外,ZYGO NEW VIEW 6300具有很高的可靠性和精確度.它能夠實現5nm或更高的特征測量可重復性,並且適合各種應用需求。它還能夠測量多種類型的表面特征以及各種不同的特征，包括氧化、沈積和電阻率特性。NewView 6300是精確晶圓和掩模檢查的高效工具，提供無與倫比的速度和精度。它具有簡單的用戶界面和高分辨率的光學器件，是任何需要精確掩模和晶圓測量的制造工藝的絕佳選擇。