二手 ZYGO NewView 7100 #9059521 待售
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ID: 9059521
Surface Structure Analysis System
Optical 3D profiler, P/N: NV6K-0110
Sample stage: motorized X-Y axis, 6" x 6" travel, manual tip/tilt, Z-axis control, P/N: NV6K-0232
5x Michelson interferometer, P/N: NV6K-0451
20x AF Mirau interferometer, P/N: NV6K-0512
Manual 4-position turret with encoder, P/N: NV6K-0312
SiC flatness standard, 30mm d, P/N: NV6K-0710
Workstation table: P/N: 6300-3434-01
Vibration isolation table, P/N: 1840-700-105.
ZYGO NewView 7100提供高分辨率、自動幹涉成像,用於掩碼和晶圓檢查。這種最先進的檢查設備利用實時成像以納米級分辨率捕獲掩模和晶片的圖像。NewView 7100是一款緊湊的設計,提供集成的數據采集、分析、報告和工作流管理,能夠快速、準確地進行檢查。ZYGO NewView 7100采用高級成像工具集構建,包括可變曝光圖像、廣域成像、幹涉成像和相位/高度圖像。該系統利用白光幹涉,具有傳統的暗場成像優勢,具有快速連續捕捉多幅高分辨率圖像的附加能力。該單元強大的光學器件提供實時viualization,可提供高對比度功能和最小噪聲。NewView 7100設計用於各種掩碼和晶圓檢查操作。無論是用於晶片缺陷表征、覆蓋、抗拒還是非抗拒成像,ZYGO NewView 7100都能提供可靠的成像結果。這臺機器能夠檢測低反射率、灰塵、微粒和其他微小缺陷。它還提供了自動化的圖像優化和統一的圖像平地場,以獲得優異的檢查結果.NewView 7100采用高級軟件套件設計,易於操作和精確控制。此工具提供了最新的直觀用戶界面、標註、自動校準技術和校準覆蓋功能。ZYGO NewView 7100軟件包括功能強大的人工智能和圖像分析工具,允許用戶輕松管理和分析數據。此資產還包括一個集成的缺陷數據庫,以便於存儲、檢索和歸檔檢查結果。NewView 7100提供自動缺陷檢測、分類和報告功能。這包括基於特定項和缺陷分類的用戶定義和預定義標準的缺陷分類。它還包括三相檢查過程,使模型能夠以一致和可靠的準確性識別和分類缺陷。總體而言,ZYGO NewView 7100是用於掩碼和晶圓檢測應用的理想解決方案。憑借其高分辨率的光學、直觀的軟件和強大的成像工具集,這款設備提供了快速可靠的檢測結果。它提供了可靠性和精確度,使用戶有信心在不犧牲準確性或速度的情況下進行準確的檢查。
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