二手 ZYGO NewView 7300 #9248752 待售
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已售出
ID: 9248752
優質的: 2011
3D Optical profiling system
X, Y Table: 6"
Part no / Description
6300-0459-01 / Electronics, power supply: 110 / 120 VAC, base system included
6450-0815-03 / 7000 Motorized, 5-Axis base stage includes motorized Tip / Tilt, X, Y, Z
6300-0650-01 / Motorized turret (4-Pos) (NV600 / 700 / 6000 / 7000)
6300-0522-02 / 0.5X Field zoom lens
6300-0316-01 / 1x Michelson objective (NV 6000/7000) (Not Turret Mountable)
6300-0593-01 / Objective: 5x Michel son objective
6300-0595-01 / Objective: 20x AF Objective
1776-666-012 / SiC Precision reference flat, 30 mm
1776-666-009 / Step height standard 85 mm
1840-700-105 / Vibration isolation table with 6300-2080-01 workstation table
6301-0401-01:
7300 3D Optical profiling system
Automated 3-position multiple system zoom
With 1.0x lens high performance digital
Closed loop piezo scanning transducer with capacitive feedback
150 Micron scan high speed measurement module
Enhanced illuminator with long lite LED high speed
High resolution CCD camera (640x480) 20 mm extended
Windows XP professional dell OptiPlex 745 minitower
Core 2 Duo 1.86 GHz
(2) DELL USB Keyboards
(2) DELL USB Buttons
Mouse with scroll DELL UltraSharp flat panel monitor, 17" (1.0 GB)
Digital video adapter card: 667 MHz DDR2 2 x 512
SATA Hard Disk Drive (HDD): 80GB
Optical filler panel: 48 X 32 CDRW / DVD
SATA Combo drive
Black PS2 serial port adapter
2011 vintage.
ZYGO NewView 7300是一種掩模和晶片檢查設備,使用先進的光學成像技術和圖像處理算法來檢測和表征掩模和晶片上的缺陷。它旨在幫助提高半導體生產工藝的精確度和準確性,可用於二維和三維缺陷檢測。該系統的工作原理是使用可調激光束掃描掩模或晶片的樣品表面。激光束從樣品表面反射出來,由高分辨率探測器檢測。然後將檢測到的信息發送到高端圖像處理器進行進一步處理。然後,圖像處理器提取缺陷檢測,對其進行表征,並生成有關發現的詳細報告。ZYGO NEW VIEW 7300具有高級缺陷表征功能,包括捕獲、分析和比較來自樣本表面多個視圖字段的數據,甚至檢測小缺陷的能力。它還為納米級信函和邏輯檢查提供可靠的成像。NewView 7300非常適合晶片和掩模檢查、晶片和掩模鑒定以及模具側成像中的缺陷檢測等應用。它提供了一套全面的功能,包括動態聚焦單元以確保更高的精度,雙波段激光照明技術以增強對比度,以及高速激光掃描機以更快地處理高分辨率圖像。它配備了強大的圖像處理引擎和先進的分析能力,能夠對缺陷及其精確位置進行準確的檢查和表征。該工具還可與SEM/TEM儀器集成,用於自動驗證樣本和傳送缺陷數據。NEW VIEW 7300配備了用戶友好、直觀的圖形用戶界面,便於安裝和操作。資產的設計符合準確性和可靠性的最高標準;有助於優化制造工藝產率;可用於各種半導體生產選擇。
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