二手 BRUKER Contour GT-X #293745272 待售

BRUKER Contour GT-X是一種先進的光學顯微鏡，設計用於研究和工業環境中的高分辨率成像和表面計量應用。這款創新儀器結合了精密光學、高速掃描技術和先進的軟件算法，為各種樣本類型提供準確細致的地形和三維（3D）測量。Contour GT-X的一個關鍵特征是它的共焦成像能力，它允許對焦平面進行精確控制，並收集具有特殊景深的銳利清晰圖像。這對於具有復雜表面地形或粗糙度的成像樣品特別有用,因為它使用戶能夠有選擇地集中在感興趣的特定區域,並消除焦平面上方和下方的非聚焦光。顯微鏡配備了能實現亞微米橫向分辨率和納米尺度垂直分辨率的高分辨率物鏡，允許粗糙度、紋理、臺階、劃痕、磨損紋等表面特征的精確表征。使用精密的電動級和先進的掃描算法可確保重復和可靠的測量，即使在表面積大或坡度陡峭的樣品上也是如此。除了成像功能外,BRUKER Contour GT-X還為分析表面形態和紋理提供了一系列先進的計量工具。內置軟件允許用戶對粗糙度平均值（Ra）、均方根粗糙度（Rq）、峰谷高度（Rz）以及曲面特征空間相關性等參數進行定量測量。這些測量可以在高分辨率顯示器上實時可視化,以便立即進行反饋和分析。再者，顯微鏡配備了一系列照明選項，包括亮場、暗場和差分幹涉對比度（DIC），允許用戶針對不同樣品類型和表面條件優化對比度和能見度。顯微鏡靈活的設計還允許與環境室、電動傾斜級和專用成像濾鏡等附加附件集成，以增強成像能力。Contour GT-X采用用戶友好的軟件界面和直觀的控件設計,使新手和經驗豐富的用戶都可以訪問它。該系統完全自動化,具有自動對焦、自動曝光和自動對準等功能,可實現快速高效的成像工作流。軟件還包括高級數據分析工具,用於生成可定制的曲面圖、輪廓圖、線掃描、直方圖和統計報告。總體而言,BRUKER Contour GT-X是一款用途廣泛、功能強大的光學顯微鏡,可為材料科學、生命科學、半導體制造、微電子、精密工程和質量控制等多種應用提供無與倫比的成像和計量功能。該顯微鏡具有卓越的成像質量、高精度測量和用戶友好的設計,非常適合研究實驗室、學術機構和尋求以無與倫比的精度和細節表征和分析表面特性的工業設施。