二手 BRUKER Dimension XR #293820697 待售

BRUKER Dimension XR是一種先進的原子力顯微鏡（AFM），提供用於納米級成像和分析的尖端能力。此高性能儀器旨在滿足當今研究和行業應用的需求,為各種成像和測量任務提供卓越的分辨率、靈敏度和靈活性。Dimension XR配備了多種最先進的功能,使其與市場上的其他AFM系統脫穎而出。這種顯微鏡的關鍵屬性之一是它的高分辨率成像能力，允許用戶以納米尺度的精度可視化表面地形。XR模型在X和Y方向上的最大掃描範圍最大可達100微米,從而能夠在廣闊的區域內捕獲詳細的圖像。除了出色的成像功能外,BRUKER Dimension XR還提供高級掃描模式,允許用戶以卓越的靈敏度探測材料屬性。儀器配備了多種掃描模式，包括接觸模式、敲擊模式、非接觸模式，各自為不同樣本類型和測量任務提供獨特優勢。XR模型還支持高級掃描技術，如PeakForce Tapping，它為具有挑戰性的樣品提供了增強的成像分辨率和靈敏度。Dimension XR的一個突出特點是其集成光學顯微鏡，在掃描時提供AFM尖端和樣品的實時視頻成像。這一特性允許AFM尖端的精確對準和掃描區域的視覺確認，更容易獲得高質量的成像結果。光學顯微鏡可用於快速定位樣品表面上感興趣的區域，簡化設置過程，簡化數據采集。BRUKER Dimension XR專為實現最大的多功能性和易用性而設計,具有用戶友好界面,可直觀控制掃描參數和成像設置。該系統與廣泛的樣品類型兼容，包括半導體材料、聚合物、生物樣品等等，使其適合多種多樣的研究和工業應用。XR模型還提供自動掃描功能,無需人工幹預即可實現高效的數據收集和分析。除了成像和測量能力外，Dimension XR還配備了先進的數據分析工具，便於對AFM圖像進行定量分析。該系統具有用於圖像處理、表面粗糙度分析和機械屬性映射的軟件包,使用戶能夠快速輕松地從其AFM數據中提取有價值的信息。BRUKER Dimension XR憑借其高性能成像、高級掃描模式和直觀的用戶界面相結合，是納米級研發的有力工具。