二手 BRUKER / VEECO Dimension 3100 #9258177 待售

ID: 9258177
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension 3100顯微鏡是一種角度分辨光學顯微鏡工具,用於多種應用,如表面計量和高分辨率成像。該顯微鏡集成了電荷耦合器件(CCD)攝像機和CCD探測器,提高了成像性能.它具有高達0.3度的角度分辨率,在垂直方向上測量長達2英寸的線段,在水平方向上測量長達4.5英寸的線段。VEECO Dimension 3100適用於薄膜分析缺陷檢測等多種工業應用。它可用於納米精度測量材料的表面地形、形態特征、形狀測量和定量表征。它包含了一個直觀的用戶界面,提供了對結果的有效、實時觀察。此外,它的自動化舞臺系統允許樣品的快速和精確移動;這是使用四個線性電動級完成的。舞臺的上部可以被使用者調整成為平臺的形式,現有的樣品架和支架可以配合顯微鏡使用。其硬件配置和選項包括多陣列探測器、10倍0.25NA物鏡、共焦激光掃描顯微鏡、熒光光譜、冷凍傳輸等。BRUKER Dimension 3100支持多種配件,包括Proxion軟件,一種3D重建軟件,與特定的陣列探測器配合使用。它允許創建曲面輪廓圖像和曲面特征的實時3D投影。顯微鏡還具有一個自動調焦系統,目標鏡片變化到0.1NA。這樣就可以對曲面細節進行精確和可重復的放大。它還具有各種信號放大放大器的特點,這取決於需求。高信噪比確保了所有應用程序的可靠和準確的結果。總體而言,Dimension 3100顯微鏡是用於高分辨率應用的強大而直觀的成像工具。它的靈活性、分辨率和多種多樣的選擇使其在許多工業應用中廣受歡迎。
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