二手 BRUKER / VEECO Dimension Edge #293640600 待售

BRUKER / VEECO Dimension Edge
ID: 293640600
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Edge是專門為相關研究而設計的掃描探針顯微鏡(SPM)。它結合了獨特的超越分辨率操作和強大的成像模式,使研究人員能夠觀察、檢查和分析從生物樣本到金屬和半導體表面的樣品的納米級特征。VEECO Dimension Edge具有大的分析視場和擴展的平面內分辨率。它配備了高性能的樣本掃描功能,包括高度和橫向掃描、3D成像和非接觸地形。此外,視頻速率掃描選項可提高數據吞吐量。為了進行有價值的成像和分析,BRUKER Dimension Edge具有邊緣檢測功能,能夠檢測納米尺寸的結構特征(即偽影、界面等)。此外,由於其精密的光學設計,顯微鏡可以產生高質量的表面圖像和缺陷的單色成像模式。此外,Dimension Edge還具有先進的用戶可控性,尤其是在圖像處理領域。它配備了大量的圖像數據采集、操作、分析和可視化工具工具箱。這提供了先進的定量數據分析功能,例如高級表面粗糙度分析和相位成像。BRUKER/VEECO Dimension Edge具有創新的自動探測和分析功能,允許自動操作和維護。其耐用、減振的設計確保了穩定性和準確性。此外,VEECO Dimension Edge采用直觀的圖形用戶界面(GUI)進行設計,便於操作和數據可視化。BRUKER Dimension Edge在生物、半導體光刻、電子、力學、化學和高分子科學研究等多個領域提供可靠的定量測量。它是一種用途廣泛、用途廣泛、全面的成像和分析工具,使研究人員能夠以前所未有的精度和速度對樣本進行可視化和分析。
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