二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293768905 待售

BRUKER / VEECO Dimension Icon
ID: 293768905
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一種原子力顯微鏡(AFM),設計用於納米級成像、剖面圖和計量。它具有高分辨率的地形和原子尺度分辨率的樣品成像能力。VEECO Dimension Icon使用前沿、低噪聲、閉環傳感器進行高度控制。這允許更高的吞吐量和更高的可重復性成像和分析樣品。高級掃描控制器設計用於保持掃描區域的精確定位,同時確保AFM的平穩運行。BRUKER Dimension Icon包含了幾個創新的功能,例如實時懸臂彎曲檢測、動態力修剪,以及一個可選的靜電力校正選項,用於在電場或電荷存在的情況下使用。AFM還設計用於與行業標準軟件和附件(包括NanoWizard®軟件套件界面)兼容。此用戶友好軟件支持實時成像、分析和其他高分辨率計量。AFM還與其他幾個數據采集系統兼容。Dimension Icon提供多種系統配置,包括組合的SEM/AFM模塊、白光和激光共焦成像,以及帶有倒置加熱樣品級的外部掃描電子設備。AFM具有廣泛的樣品準備和成像附件,包括用於高分辨率成像的自動掃描技巧。此外,AFM還有一個可選的可見光和紅外光譜光學系統,允許用戶在納米級分析他們的樣品。BRUKER/VEECO Dimension Icon設計用於處理各種環境中的高性能成像應用,包括高真空、空氣和低於零度的溫度。這使得研究人員能夠更輕松地對各種材料進行成像。總之,VEECO Dimension Icon是一種強大的原子力顯微鏡,設計用於先進的納米級成像和剖面圖。該儀器具有原子尺度分辨率,並融合了活動懸臂彎曲檢測和動力修整等創新功能。它還兼容了廣泛的用戶友好軟件和配件。AFM設計用於多種環境,包括高真空、空氣和零度以下的溫度,非常適合高性能成像應用。
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