二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827010 待售
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ID: 293827010
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一種用戶友好的掃描探針顯微鏡(SPM),能夠產生具有原子尺度分辨率的表面高分辨率圖像。該系統包含Vector Drive和Z-Faction功能這兩個功能最強大的功能,使其成為高級納米顯微鏡成像的寶貴顯微鏡。Vector Drive功能利用快速而強大的樣本處理技術使掃描過程自動化。它通過數字控制x、y和z階段來實現這一目標,以便在較寬的區域內統一掃描曲面。此過程顯著減少了生成圖像所需的時間,使用戶能夠以原子級分辨率快速獲取其樣本的視覺效果。Z-Faction特性還通過使用壓電電動機在掃描時連續監控樣品表面來減少勘探時間。這允許用戶精確控制懸臂與樣品表面之間的距離,以獲得更高質量的圖像。此外,此功能有助於減少由於振動噪聲引起的數據錯誤。VEECO Dimension Icon提供可靠和準確的測量功能,具有一系列增強用戶體驗的功能。顯微鏡具有讀取和掃描包括金屬、半導體和聚合物在內的各種樣品類型的內置能力。它還可以容納一系列懸臂,允許用戶為各種樣本格式定制自己的儀器。此外,BRUKER Dimension Icon擁有強大的數據采集系統和直觀的軟件。這使用戶能夠輕松獲取、測量、可視化和分析其數據。此外,該軟件還與各種平臺和分析軟件兼容,從而進一步擴展了該功能。總體而言,Dimension Icon是高分辨率表面成像的絕佳工具。其卓越的掃描能力、快速的掃描速度、精確的電機控制以及集成的軟件使其成為以原子級分辨率監控和研究表面的理想之選。BRUKER/VEECO Dimension Icon憑借其廣泛的特性和功能,確保提高研究實驗室的效率和準確性。
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