二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827011 待售
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ID: 293827011
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一種最先進的原子力顯微鏡(AFM),提供了前所未有的納米級科學訪問途徑。這種先進的成像儀器旨在通過對生物和無機樣品進行納米級成像和表征,為研究人員提供盡可能高的表面結構和特性分辨率。它具有靈活掃描模式的多功能掃描頭、獨特的樣品進場設備和強大的控制系統。VEECO Dimension Icon具有300 mm的較大工作距離,便於更換樣品,並提供了一種物鏡設計,光圈可達5 µm。這樣可以對具有清晰成像性能和最小熱漂移的小特征進行成像。儀器的動態範圍高達15N,噪聲水平優於0.5納米安培,而分辨率為100皮米。該儀器的高級掃描頭能夠進行地形成像以及敲擊模式、側向力顯微鏡(LFM)和Z-piezo調制掃描。頭部還包含九個壓電掃描儀,最大可達到6µmscanning面積,使其能夠以快速的掃描速度拍攝高分辨率圖像。BRUKER Dimension Icon使用了一個獨特的樣品進場單元,集成到顯微鏡光學中。這臺機器為樣品提供精確的垂直定位,分辨率為10納米。它還允許直接表面接觸測量,而無需懸臂,大大降低了研究的復雜性。Dimension Icon由具有用戶友好界面的高性能計算機控制。此工具用於設置掃描參數和數據采集,以及分析和存儲圖像數據。它還可以方便地與光學顯微鏡等其他儀器集成。總體而言,BRUKER/VEECO Dimension Icon是一款功能強大的成像儀器,為納米級研究提供無與倫比的性能。利用其靈活的掃描模式、獨特的樣本方法資產和直觀的控制模型,研究人員可以以前所未有的細節水平探索表面結構的特性。
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