二手 BRUKER / VEECO Dimension Icon #9312250 待售

ID: 9312250
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon是一種掃描探針顯微鏡,提供無與倫比的能力來調查和測量表面特征。它將幾種儀器合二為一,包括掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、接觸模式AFM和原位電氣/光學/機械表征。它還具有在單個位置同時成像多種模式、低噪聲操作、動態懸臂檢測以及易於集成附件的特點。VEECO Dimension Icon利用了最新的納米技術,使研究人員能夠研究各種不同規模的材料,從納米級材料到散裝材料。該設備包括獨特的模塊化設計,可輕松適應任何用戶的需求。它采用三臺精密電機進行振幅控制,並作為一個先進的掃描系統,使其能夠高分辨率成像。它還包括幾種成像模式,允許各種應用,如化學成像、地形和壓電響應。儀器還有一個集成的溫度控制單元。這樣可以確保整個測量範圍內的精確測量和溫度穩定性。它還具有光電技術穩定性,其中顯微鏡在樣品位置因抗振光機而改變時,將焦點和對準保持在恒定水平。再者,BRUKER Dimension Icon結合了一個大的樣品區域和高分辨率的詳細圖像,因此非常適合用於先進的材料分析和納米技術。該工具還具有直觀易用的圖形用戶界面。它提供了材料及其屬性的可視化表示,以及精確的x/y/z坐標和掃描,使分析數據變得更加容易。最後,該資產提供了一系列軟件工具,可以進行詳細的數據分析並與其他系統集成。總體而言,Dimension Icon掃描探針顯微鏡是研究任何尺度的表面特征的強大而通用的模型。它提供高分辨率成像和多重成像模式、phototech穩定性、集成溫度控制和直觀GUI,以及各種集成和數據分析的軟件工具。
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