二手 BRUKER / VEECO Dimension VX 305 #293665809 待售

ID: 293665809
優質的: 2006
Atomic Force Microscope (AFM) 2006 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension VX 305是一種先進的掃描探針顯微鏡,允許在微觀尺度的表面上進行高度精確的測量。該顯微鏡結合了原子力顯微鏡(AFM)、掃描隧道顯微鏡(STM)、掃描電容顯微鏡(SCM)等多種測量技術。VEECO Dimension VX 305包含兩軸掃描儀,允許精確定位樣品和控制掃描場。該掃描儀提供了從10納米到30毫米的各種掃描光柵尺寸。顯微鏡包括一個集成的掃描框架,閉環伺服控制提高定位精度。這也有助於測量質量,使恒定的,可重復的掃描運動和運動。BRUKER Dimension VX 305由功能強大的基於PC的控制器控制,該控制器通過安全的以太網接口連接到儀器。該控制器確保了顯微鏡操作的高度自動化和準確性,包括測量質量反饋和控制。Dimension VX 305的各種成像模式進一步增強了其測量能力。顯微鏡提供了接觸、敲擊、動力顯微鏡(DFM)等功能。多種成像模式,如頻率調制、相位成像和側向力顯微鏡,可以在廣泛的應用中獲得出色的效果。BRUKER/VEECO Dimension VX 305在其操作環境中用途廣泛。顯微鏡配備了多項環境控制功能,如溫度控制、供氣控制、濕度監測等。這使得顯微鏡可以用於苛刻的環境條件以及廣泛的分析和計量應用。顯微鏡還能夠觀察樣品表面下方和上方的樣品。VEECO Dimension VX 305真正是一個獨一無二、用途廣泛的掃描探針顯微鏡,可以用來對微觀尺度表面進行高度精確和詳細的測量。BRUKER Dimension VX 305結合了電容、隧道和其他成像模式,是廣泛行業和應用的理想選擇。
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