二手 BRUKER / VEECO Dimension X3D 340 #293766215 待售

ID: 293766215
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension X3D 340是一種功能強大的掃描探針顯微鏡(SPM),能夠實現原位三維納米和操作。它具有市場領先的X射線光學元件、主動減少樣品和先進的環境選項,是一種多功能工具,旨在滿足要求最苛刻的研究應用程序的要求。核心SPM組件包括閉環掃描儀、快速采集電子設備、穩健的控制設備和靈敏力傳感器。VEECO Dimension X3D 340還配備了一個專有的納米定位器,能夠以高精度快速掃描樣品表面。這樣就可以用納米分辨率表征材料和電性能。該系統的探測器基於原子力顯微鏡(AFM),具有接觸和掃描模式選項,用於地形和動態成像。先進的環境選擇,如熱控制、濕度控制、等離子體處理和其他樣品處理功能,使原位材料的調查達到了埃的水平。BRUKER Dimension X3D 340的復雜邊緣檢測功能可用於研究曲面特征或定位三個維度的高分辨率對象。其定制的「Multipoint Mode」允許對同一個樣本進行高精度的多個操作。它的高速電子設備能夠實時可視化尖端-樣本交互,使用戶能夠更好地了解其樣本的動態。Dimension X3D 340捆綁了一系列用於數據處理的高級VEECO軟件包。這使得研究人員能夠從大型數據集創建3 D地圖,簡化結果,並在納米級測量物理和化學性質。該單元還與一系列開源軟件包兼容,允許針對應用量身定制的解決方案。堅固的機器操作確保了可靠的長期運行,而無需定期維護,而其直觀的界面甚至可以讓新手用戶快速高效地進行設置。BRUKER/VEECO Dimension X3D 340是納米級研究的理想工具。
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