二手 BRUKER / VEECO Dimension X3D #9150545 待售
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ID: 9150545
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Atomic Force Microscope (AFM), 12"
UI Rack
Main body
Device monitor
2006 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension X3D是一種高性能分析掃描探針顯微鏡（SPM），旨在為各種應用實現非接觸面表征。它利用先進的技術，包括一系列的高分辨率掃描模式來提供無與倫比的空間分辨率水平。VEECO Dimension X3D是Dimension SPM系列中的頂級模型。它能夠在受控環境中分析分辨率降至0.1nm的材料,從而實現納米化特征和結構的動態成像。它還支持具有卓越橫向分辨率的大面積測量,使用戶能夠快速輕松地收集復雜的三維數據。BRUKER Dimension X3D配備了多種熱和光反饋機制以及各種掃描模式,使用戶能夠在不影響樣品的情況下執行各種操作。它還配備了一個大尺寸的樣本級，允許在一個大的區域快速收集數據，最小的運動和熱漂移。該設備的靈活性和高分辨率功能使用戶能夠獲取數據,從納米級（例如汙染和化學分析）到各種成像應用,包括地形、超高分辨率成像和參數圖。此外,Dimension X3D能夠在空氣和液體環境中進行掃描,並對各種材料（包括有機和無機材料、金屬和半導體）進行表征。BRUKER/VEECO Dimension X3D還包括高級軟件集成、簡化數據分析和實現自動化功能以方便用戶友好操作。它的用戶友好型SPM使用戶能夠通過最少的培訓來進行廣泛的實驗。VEECO Dimension X3D是一種高性能掃描探針顯微鏡，設計方便用戶操作和可靠、高分辨率成像。它能夠精確地表征到納米級的曲面,並包括各種集成的軟件工具,可方便自動化和輕松操作。憑借其多種多樣的能力，它是研究納米材料、材料科學等研究人員的理想工具。
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