二手 BRUKER / VEECO Icon 3 #9257586 待售

BRUKER / VEECO Icon 3
製造商
BRUKER / VEECO
模型
Icon 3
ID: 9257586
Atomic Force Microscope (AFM) Assembly E-box.
BRUKER/VEECO Icon 3是一種掃描探針顯微鏡(SPM),用於在納米級分析樣品表面。可用於生物和材料科學、半導體物理或微電子學等多種研究應用。VEECO Icon 3使用掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。BRUKER Icon 3具有廣泛的樣本分析功能。它有一個高靈敏度的數字成像設備和一個相機,可以方便地分析各種各樣的納米結構。它還有一個高分辨率的階段移動系統,可以非常精確地進行樣本處理。圖標3能夠以原子級分辨率成像樣品,並且可以在4K以下的環境中測量。掃描隧道顯微鏡(Scanning tunneling microscopy, STM)是一種使用超銳利導電探針的非侵入成像技術,用於測量樣品的表面地形。樣品被安裝在一個特殊的盤子上,然後在樣品保持在真空狀態的同時在其表面掃描探針。探針掃描樣品時,感應出探針與樣品表面之間產生的量子力。收集得到的數據,並將其用於建立納米級樣品的圖像。這種方法允許研究者獲得有關樣品特征的詳細信息,如原子級分辨率圖像或它們的化學成分。原子力顯微鏡(Atomic force mincopy,簡稱AFM)是一種技術,在樣品表面掃描一個非常細的尖端,以便測量樣品上各點的力。這種技術允許以約0.01納米的平面外分辨率可視化樣品表面上的特征。BRUKER/VEECO Icon 3也能一次追蹤多個樣本點以取得表面的3D影像。VEECO Icon 3包括各種用於樣本分析的工具和軟件,例如允許研究人員對樣本進行基本測量的通用軟件,以及更具體的軟件包。這些軟件包可以對樣品進行更深入的分析,讓研究人員能夠調查樣品的電熱特性等性質。綜上所述,BRUKER Icon 3是一款功能廣泛的高分辨率掃描探針顯微鏡。它的高分辨率成像單元和舞臺運動機器使科學家能夠以極高的精確度研究樣品,直至原子級分辨率。圖標3還有多種用於樣品分析的軟件包,使其成為納米級研究不可或缺的工具。
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