二手 BRUKER / VEECO MultiMode 8 #293602191 待售

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ID: 293602191
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope V Controller Electro chemistry module Monitor PC Tip holders: Standard AFM Holder HR AFM Holder STM Holder Scanners: Picoforce 1B440-PF: Module Range: X / Y: 46.5 microns Z: 20 microns EV Liquid resist scanner: Range: X / Y: 17.6 microns Z: 3.81 microns 6595A Scanner: Range: X / Y: 1.24 microns Z: 0.66 microns.
BRUKER/VEECO MultiMode 8是一種掃描探針顯微鏡,旨在為材料科學研究提供一系列先進的可視化和分析能力。它提供了一套分析技術,包括原子力顯微鏡(AFM)和/或掃描隧道顯微鏡(STM),結合在模塊化平臺中。顯微鏡配備了廣泛的分析功能,允許用戶以超高分辨率捕獲樣品的地形、電氣和機械數據。AFM和STM模式用於測量表面的機械和電氣性能,以及查看各種材料的圖像到納米分辨率。這使研究人員能夠對樣品的結構、組成和其他物理特征獲得有價值的洞察力。VEECO MultiMode 8可用於低溫樣品分析,提供機械弱樣品的組成、結構和缺陷密度信息。該設備配備了環境和液體環境,用於進行現場樣品測量。液體環境可用於測量復雜液體或氣態環境中樣品的動態行為。顯微鏡系統工作與廣泛的材料從無機和有機源。BRUKER MultiMode 8的知識產權架構支持定制測量策略的開發,這些策略完全集成到單元中。這使得研究人員能夠快速、準確地獲取數據,而用戶互動最少。它還有助於通過自動分析特征減少分析時間。MultiMode 8還提供了多種可視化工具,用於快速分析和解釋數據以進行高效分析。它包括2D和3D成像模式,並配有先進的信號處理算法,用於從圖像結果中提取所需的數據。此外,該機器可以與廣泛的其他實驗室設備結合使用,如SEMs、TEMs和透射電子顯微鏡,以進一步洞察材料的性質和行為。總之,BRUKER/VEECO MultiMode 8是一種先進的掃描探針顯微鏡,設計用於提供高分辨率成像和分析多種材料,功能廣泛。該工具配備了能夠更快、更準確地進行樣本分析的功能。它適用於無機和有機樣品表征,高度可定制,支持定制數據處理策略。其強大的可視化和信號處理工具允許對數據進行快速分析和總結,為研究者提供對材料行為的全面觀察。
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