二手 BRUKER / VEECO Ultra Scan Control C #9098198 待售

BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供成像、光譜和光刻應用中的尖端性能。VEECO Ultra Scan Control C結合了高分辨率離子探測器和強大的軟件,詳細分析了一系列材料,包括金屬、聚合物和碳基材料。BRUKER Ultra Scan Control C由於其低像差列和低背景噪聲,提供了出色的圖像分辨率。儀器的X-Y掃描範圍高達8mm，廣泛的探測器提供光譜信息，如X射線發射、俄歇電子能譜和SEM元素圖像，每一個都可以在0.5nm至10µm的放大範圍內拍攝。Ultra Scan Control C具有高精度的自動對焦系統,即使在樣品高度發生微小變化時,它也能通過提供校正反饋來確保圖像質量。該系統還允許動態調整景深和放大倍率,以及沿z軸移動。此外，還可以使用廣泛的樣本持有者，以便研究不同幾何形狀的樣本。BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C能夠對同一樣本進行重復掃描,以便進行統計分析。圖像對齊（ILA）功能能夠對可變樣品進行超高速成像,停留時間非常小。自動化的ILA還確保對多個樣品進行準確成像，而無需重新對準。此外，先進的信號收集系統允許研究人員修改用於存儲和分析數據的參數。軟件功能（如峰谷檢測）允許快速測量孔隙和晶粒大小,以及測量表面粗糙度。VEECO Ultra Scan Control C還具有一系列強大的分析和評估工具,包括直方圖顯示、標記特征和二維輪廓圖。總體而言,BRUKER Ultra Scan Control C是一款先進的SEM設備,它為成像、光譜和光刻應用提供了廣泛的功能,並且能夠提供對一系列材料的詳細分析。它結合了高分辨率離子探測器和強大的軟件能力，是各學科研究人員的理想儀器。