二手 BRUKER / VEECO X-D3 AFM #9281333 待售

BRUKER/VEECO X-D3 AFM是一種原子力顯微鏡（AFM），用於納米級成像和表面分析。它在x、y和z維度上具有1.5 nm的極高分辨率，用於對各種表面的磁性、電性和力學性能進行亞微米分析。該X-D3以其易用性、準確性和可靠性著稱，使其成為專業和業余研究人員的理想選擇。AFM的工作原理是用連接到懸臂上的尖端掃描納米級樣品表面。懸臂的運動由激光和光學探測器測量。懸臂以一定角度偏移,並在整個掃描過程中產生少量力。VEECO X-D3 AFM集成了多模式功能,包括接觸（測量懸臂與樣品表面接觸力的變化）和非接觸（懸臂在卸載狀態下運作）。使用接觸模式,X-D3能夠精確成像和測量各種類型的表面地形,如地形高度變化、顛簸和空腔。非接觸模式非常適合研究局部力學性能，如摩擦和彈性模量。該X-D3還配備了新的高分辨率DataCube成像系統，該系統結合了數字微鏡設備（DMD）技術，用於先進的3D成像。該系統提供了比傳統2D成像方法更高精度的高細節圖像。DataCube的威力由超分辨率成像進一步增強，通過有效利用運動模糊來結合多個影像，超越了傳統成像的解析度。該X-D3還針對使用內置靜電計測量電流電壓（I-V）特性進行了優化,使用戶能夠快速準確地測量電阻或電容中的躍遷。此外，AFM附帶了集成的PicoScan IV控制器，在實驗期間提供實時反饋，使用戶能夠更好地測量滯後曲線和磁域等納米級特性。這款AFM的靈活性使其成為微電子、生物技術、半導體、數據存儲研究等行業的理想選擇。