二手 LEICA / VISTEC INM 20 #293759374 待售

LEICA/VISTEC INM 20是一款前沿掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高性能成像和分析各種樣品，分辨率和精確度都非常出色。這種先進的儀器結合了LEICA著名的光學質量和VISTEC的尖端技術，使其成為科學研究和工業應用的強大工具。LEICA INM 20的核心是高分辨率場發射電子源，產生亮度和穩定性異常的電子束。使用精密電磁透鏡和掃描線圈在樣品表面上聚焦和掃描電子束，以便以納米級分辨率進行詳細成像。顯微鏡配備了多個探測器，包括二次電子、反向散射電子和能量色散X射線探測器，使樣品形態、組成和結構的成像和分析變得全面。VISTEC INM 20具有堅固而多用途的腔室設計,為大型且形狀不規則的樣品提供了充足的空間。該腔室設有多個端口，便於樣品裝卸，以及用於集成冷凍轉移系統、氣體註入系統、樣品支架等專門配件進行原位實驗。顯微鏡還包括先進的真空系統，確保穩定和無汙染的成像條件。INM 20的關鍵亮點之一是其直觀、用戶友好的軟件界面，它允許對顯微鏡參數的高效控制、圖像采集和數據分析。該軟件提供了一整套成像和處理工具,包括圖像縫合、3D重建、元素映射和線條輪廓分析。用戶可以輕松定制加速電壓、光束電流、掃描速度等成像參數，針對不同樣本類型和分析目標優化成像性能。除了成像能力外，LEICA/VISTEC INM 20還配備了先進的元素和化學分析分析功能。能量色散X射線探測器能夠對樣品進行定性和定量的元素分析，為樣品組成和結構提供有價值的見解。顯微鏡還支持電子束光刻應用，允許在樣品表面上精確制圖和制造納米結構。總體而言，LEICA INM 20為顯微鏡領域的高分辨率成像和分析設定了新的標準。它出色的性能、多才多藝的設計和用戶友好的界面,使其成為各種科學學科（包括材料科學、納米技術、生物學和地質學）的理想工具。無論是在學術研究實驗室、工業研發設施還是質量控制實驗室，VISTEC INM 20都提供了無與倫比的成像能力和分析精度，為推動科學探索的邊界。