二手 NANOSURF Atomic Force Microscope (AFM) #293770952 待售

ID: 293770952
Controller CD M-Tool set Feet protector Calibration grid Sample T-Holder Cable SONY / VAIO PCG-7D1M PC: Charger Damper pillow.
NANOSURF原子力顯微鏡(,簡稱AFM)是一種高分辨率成像儀器,利用鋒利的探針掃描樣品表面,提供納米尺度的詳細地形信息。AFM是廣泛應用於材料科學、納米技術、生物學、生物物理學等各個領域的強大工具,用於研究表面形態、力學性質以及納米級別的表面相互作用。AFM操作的核心原理涉及使用一個鋒利的探針,通常是一個懸臂,末端有一個鋒利的尖端,與樣品表面相互作用。當探針掃描表面時,它在尖端和樣品之間經歷分子間的力如範德華力、靜電力和化學力。這些相互作用導致懸臂的偏轉,這是由敏感的探測器檢測到的,允許產生表面的地形圖。NANOSURF AFM配備了高級功能,增強了成像能力和性能。NANOSURF AFM的關鍵特征之一是其高分辨率成像能力,使研究人員能夠在納米級以非凡的清晰度和細節可視化表面特征。AFM可以實現低至亞納米範圍的橫向分辨率,使其成為研究小特征的理想選擇,如納米粒子、納米線和生物分子。除了高分辨率成像外,NANOSURF AFM還提供各種成像模式,滿足不同的樣品類型和研究要求。最常用的成像模式包括接觸模式、敲擊模式和動態模式。在接觸模式下,探頭與樣品表面保持恒定接觸,提供高分辨率的地形信息。另一方面,敲擊模式涉及使懸臂在其共振頻率附近振蕩,從而降低了尖端-樣品相互作用力,最大限度地減少了樣品損傷,延長了探頭壽命。動態模式(Dynamic mode),又稱非接觸模式(non-contact mode),以較高的振蕩幅度運作,允許測量諸如附著力和剛度等樣品性質。而且,NANOSURF AFM配備了先進的力光譜能力,使研究人員能夠研究樣品的機械性能,如附著力、剛度和彈性。通過對樣品表面施加受控力,研究人員可以測量力距離曲線,提供對納米級材料力學性能的洞察力。NANOSURF AFM還能夠執行各種其他功能,如納米操作、納米光刻和電氣表征。納米操作使研究人員能夠高精度地操縱表面的單個納米顆粒或生物分子,使納米結構的組裝和分子相互作用的研究成為可能。納米光刻涉及使用AFM探針繪制納米級表面的圖樣,為創建納米結構和設備提供了一個通用工具。此外,AFM還可以通過集成電探針來測量樣品的電導率、電阻率和電容來進行電表征。綜上所述,NANOSURF AFM是一種用途廣泛、功能強大的儀器,用於對材料和生物樣品進行高分辨率成像和納米級表征。AFM憑借其先進的特性、成像模式以及力譜和納米操作的能力,成為尋求探索和了解納米世界的各個領域研究人員不可或缺的工具。
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