二手 NANOSURF Flex #293603647 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293603647
Atomic Force Microscope (AFM)
Maximum scan range: 100 µm x 100 µm
Resolution in XY: 1.525 nm
Maximum Z range: 10 µm
Resolution in Z: 0.152 nm
Acoustic enclosure
Operating mode:
Static force
Lateral force
Dynamic force
Phase contrast
Tips:
150A1-G Sensor tap
Tip radius: <10 nm
Half cone angle:
20°-25° Along cantilever axis
25°-30° From side
10° At the apex.
NANOSURF Flex是一種用途特別廣泛的顯微鏡，設計用於廣泛的成像和表面表征需求。它旨在提供出色的分辨率和圖像對比度，使科學家能夠輕松準確地對復雜的樣本進行成像。顯微鏡的核心由計算機控制的顯微鏡單元組成，該單元具有集成的電動級和各種可選組件。集成的納米定位No-Go移動範圍和具有納米級精度的機械表面掃描頭,使Flex對具有從幾納米到幾毫米大小的地形特征的成像表面高度敏感。NANOSURF Flex還提供了多種方便操作的集成功能，包括用於導航的人體工程學操縱桿、用於運動控制的控制和反饋系統，以及用於精細聚焦調整的電機驅動聚焦機構。利用該系統，可以從任何掃描電子顯微鏡或其他可以與Flex相連接的設備獲取和分析圖像。系統的靈活性還允許用戶進行廣泛的實驗，從簡單的自上而下的表面掃描到更徹底的定量表面分析。其光學功能提供了亮場、暗場、差分幹涉對比度（DIC）和偏振光成像,以微米級精度呈現樣品的最佳細節和測量尺寸。NANOSURF Flex還配備了用於測量表面特性的內置工具，包括粗糙度和波紋。其自動映射功能可以高精度地測量這些參數，從而無需手動測量特征。使Flex在類似設置中脫穎而出的是它的多功能性和準確性。結合其人體工程學控制，它使科學家能夠以超常的精確度方便地對復雜樣品進行成像，從而能夠開發出詳細的表面特性模型。
還沒有評論