二手 PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM #9148943 待售

PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM（原子力顯微鏡）是一種掃描探針顯微鏡，專門設計用於在原子細節水平上產生樣品表面的高分辨率圖像。這種顯微鏡在測量和成像軟、硬表面和拓撲方面是獨一無二的。這是通過一個極高分辨率的光學系統和一個計算機控制的機械探針的組合來完成的，該探針用於探測樣品表面。AFM的核心是兩個主要組件：傳感器和懸臂，它們都安裝在剛性平臺上。傳感器是一種超高分辨率光學系統，能夠以納米分辨率測量懸臂與樣品表面之間的高頻力強度。然後，這種力信號被轉換成一個光學圖像，並且可以用來產生一個非常詳細的，高分辨率的三維圖像的樣品，適用於廣泛的材料。懸臂是一個小梁,一端有一個單獨的尖端,通常以垂直於樣品表面的方向對齊。然後將尖端與樣品表面接觸,以測量尖端與樣品表面原子和分子之間的力,以及諸如晶界等物理特征的圖像。懸臂裝有可調節壓電驅動器，能夠精細控制尖端的運動和位置。這允許尖端以納米級的分辨率掃描樣品表面，這遠遠超出了標準光學顯微鏡的極限。PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM from PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS擁有卓越的成像性能特性,具有多項技術特性,致力於優化精度和速度。根據模型的不同，AFM可能有許多類型的樣品級之一，設計用來精確測量樣品相對於懸臂的位置。它還可能有一個樣品掃描儀，這是一個可移動的組件，可以通過控制樣品的運動來改變要測量的面積的大小。PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM是科學和醫學研究者的一個寶貴工具，因為它可以被用來研究各種材料的表面，如半導體、聚合物、蛋白質和細胞，具有非凡的精確度和細節。它能夠分析表面地形、粗糙度、附著力和粘彈性等結構和特性。此外，它還可以用來觀察這些性質隨時間的納米尺度變化，為材料的動態行為提供有價值的洞察。