二手 PHILIPS / FEI Tecnai Osiris #293815874 待售

PHILIPS / FEI Tecnai Osiris
ID: 293815874
Scanning Transmission Electron Microscope (S/TEM).
PHILIPS/FEI Tecnai Osiris顯微鏡是一種尖端透射電子顯微鏡(TEM),結合先進的成像技術和創新的功能,為納米技術、材料科學、生物學等領域的廣泛應用提供高分辨率和高質量的圖像。這種顯微鏡模型是由FEI開發的,FEI是一家領先的電子顯微鏡制造商,以其精度和可靠性著稱。FEI Tecnai Osiris顯微鏡配備了場發射槍(FEG)電子源,產生高亮度和穩定性的高聚焦電子束。與傳統的熱電子電子源相比,這可以提高成像性能,改善信噪比,提高分辨率。顯微鏡還具有穩定的高壓電源和精確的控制機制,用於精確的光束對準,使用戶能夠實現他們的樣品的最佳成像條件。飛利浦OSIRIS顯微鏡的一個關鍵特征是其先進的像差校正系統,它校正電子束中的球面和色差。這種校正技術顯著提高了圖像的分辨率和對比度,使研究人員能夠以前所未有的清晰度可視化精細細節和結構。顯微鏡能夠實現亞埃分辨率,是研究納米材料和結構的理想選擇。Tecnai Osiris顯微鏡配備了一系列用於成像和分析的探測器,包括用於捕捉高分辨率圖像的高靈敏度CCD相機、用於元素映射的掃描透射電子顯微鏡(STEM)探測器和用於化學分析的能量色散X射線光譜(EDS)探測器。這些探測器可以很容易地針對不同的成像模式和分析技術進行切換和優化,使用戶可以靈活高效地進行廣泛的實驗。除了成像能力外,FEI OSIRIS顯微鏡還提供先進的自動化和軟件功能,用於用戶友好的操作和數據采集。顯微鏡由直觀的軟件界面控制,允許用戶設置成像參數,獲取圖像,輕松執行分析。該系統還配備了光束對準、聚焦調節和圖像采集的自動化功能,減少了人工幹預的需要,提高了可重復性。PHILIPS Tecnai Osiris顯微鏡采用模塊化架構設計,可輕松升級和定制,以根據特定的研究需求定制系統。用戶可以通過動態實驗的原位支架、冷凍冷凍樣品成像系統、受控條件下研究樣品的環境腔室等附加配件擴展顯微鏡的功能。這種靈活性使得顯微鏡成為廣泛研究應用的通用工具。總體而言,OSIRIS顯微鏡是一種最先進的儀器,提供無與倫比的成像性能、先進的像差校正、多用途的檢測能力和用戶友好的操作。PHILIPS/FEI OSIRIS顯微鏡具有高分辨率成像功能、先進的自動化功能和靈活的定制能力,是研究人員和科學家在各個研究領域尋求突破電子顯微鏡界限的有力工具。
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