二手 SONOSCAN C-SAM 300 #9016610 待售

SONOSCAN C-SAM 300是一種精密的超高分辨率聲學顯微鏡。它能夠掃描晶片和子板，以檢查和檢測電氣元件的缺陷，如半導體器件和集成電路。C-SAM 300利用聲學顯微鏡，這是一種用聲音掃描和成像表面的無損檢測方法。SONOSCAN C-SAM 300結合了SONOSCAN的聲學鏡頭和高分辨率2D/3D顯示屏以及包含自動缺陷分類和檢測算法的軟件包，允許快速可靠的缺陷識別和故障隔離。其系統還包括光束冷凝器、聲學透鏡、寬孔徑高頻換能器和精密X-Y顯微鏡級。C-SAM 300強大的聲學成像提供1微米分辨率（橫向和深度方向）的實時成像。其聲學透鏡的焦距很短，可以優化分辨率，容易接觸到不同的元件。其寬孔徑高頻換能器能夠垂直分辨率達到1微米的深度，橫向分辨率達到0.45微米。與傳統缺陷定位技術相比,SONOSCAN C-SAM 300能夠檢測到半導體器件上最小的缺陷,從而提供更高的分辨率和更低的信息丟失。該系統還能夠識別和分類組件中的每一個故障,提供圖像處理功能來自動檢測和篩選缺陷,而無需任何人為幹預。多種信號分析技術，如振幅調制、相位調制、反向散射、互相關和延遲時間分析，確保所有信號的應用和處理都得到優化，以便在C-SAM 300上獲得最佳聲學成像效果。可通過簡化的菜單和可訪問的選項輕松調整特定於應用程序的設置和參數。SONOSCAN C-SAM 300除了其出色的聲學掃描能力外，還易於操作，具有直觀的軟件、自動缺陷識別功能，以及引導用戶完成缺陷檢測過程每一步的幫助系統。