二手 SONOSCAN C-SAM D-6000 #9223694 待售

SONOSCAN C-SAM D-6000是一種先進的半導體聲學顯微鏡，設計用於無與倫比的聲學成像和分析應用範圍。該設備提供最新的聲學成像技術,分辨率最高,並具有多項功能,可提供最高的系統性能和最好的聲學成像數據。SONOSCAN C-SAM D6000使用激光脈沖回波技術在半導體晶片表面生成薄膜材料的聲學圖像。激光激發源產生的超聲波脈沖集中在材料的正面和背面，並對產生的聲波信號進行采集和處理。此掃描將生成材料的橫截面視圖。C-SAM D-6000提供了卓越的分辨率，使其成為檢查和分析納米級材料的理想工具。它還能夠監測材料內部的微觀修改，如地下缺陷、微電子元件和埋藏特征。其先進的硬件和軟件功能也使其成為高批量生產線樣品評價的理想選擇。它的視野可以根據標本大小進行調整，允許非常精確的成像。C-SAM D6000非常適合分析IC元件、MEMS結構、3 D結構和高分辨率光刻結構的無損檢測。此外，它對橫截面成像技術的專門實施可用於對照預先存在的設計圖紙檢查制造材料，以查明與設計的任何偏差。SONOSCAN C-SAM D-6000提供了一整套軟件工具,例如其Auto Focus功能,可確保實時正確聚焦,而無需手動調整。該單元還針對脈沖和CW聲學成像進行了優化,為各種應用提供了更大的靈活性。SONOSCAN C-SAM D6000除了具有成像功能外,還提供一系列分析功能。其先進的信號/噪聲抑制和預掃描儀特性，即使在存在信號汙染的情況下，也能精確測量像層厚度和輪廓形狀這樣的特性。本機還包括一個最優的采峰算法，用於識別和表征具有極低振幅或高背景SNR的特征。C-SAM D-6000是一種高度通用的工具,旨在滿足半導體行業廣泛應用的要求。它的準確性、可靠性和高級特性使其成為分析任何類型材料的寶貴工具。